光學元件激光損傷檢測及預處理設備
產品介紹
光學元件激光損傷檢測及預處理設備(LDT-2000-C)，主要用于測試光學元件的激光損傷閾值以保證放置于光路中的各類光學元件的強激光負載性能，應用范圍包括光學元件激光損傷測試、體材料激光損傷測試鍍膜工藝優化等。
| 光學元件激光損傷檢測及預處理設備 | |
| 型號 | LDT-2000-C |
| 測量波長 | 193nm、355nm、532nm、1064nm或其他客戶定制波長 |
| 激光脈寬 | ~10nm |
| 最大測試激光通量 | ≥100J/cm² |
| 損傷點識別率 | ≥95% |
| 樣品尺寸 | ≤150mm x 150mm(L x W)或客戶定制 |
01
兼容多種尺寸樣品，自動定位樣品
02
在線觀測損傷圖像
03
支持測試方式”1 ON 1"、“R ON 1”、"S ON 1”
04
測試標準：ISO 21254
05
自動化測試流程，自動計算損傷閩值
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