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平面元件缺陷檢測設備

產品介紹

平面元件外觀缺陷檢測設備(AOSI-4000F)主要用于平面光學元件的全自動外觀質量檢測,具有自動化程度高,批量上下料,自動傳送,智能檢測,根據檢測結果智能分選,并生成每個元件的檢測報告。設備可生成檢測日志,按不同時間周期進行元件檢測數量、缺陷檢測類型比例等條件進行日志生產,觀察生產良率變化,對生產工藝改進做出指導。

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產品參數
平面元件缺陷檢測設備
型號 AOSI-4000F
樣品類型 平面、球面、非球面
典型樣品尺寸*1 Ф5mm-Ф30mm
漏檢率 ≤1%
過檢率 ≤10%(不包含臟污類)
最大檢測效率 2400 pcs/h @ Ф10mm,40/20
上下料方式 全自動上下料,接口可定制
典型檢測標準 *2 美軍標MIL-PRF-13830B
額定功率 8KW
供電電源 220V,50Hz
壓縮空氣 0.6MPa-0.8MPa,300L/min
設備尺寸*3 1865mm x 1565mm x 2165mm
設備重量 1000kg

*注1:樣品尺寸可根據需求進行拓展。
*注2:檢測標準可拓展其他檢測標準,例如國際標準ISO10110-7、國標GB/T 1185-2006、自定義標準。
*注3:設備尺寸可根據現場安裝條件進行調整。

產品特點

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