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碳化硅缺陷檢測儀

產品介紹

碳化硅缺陷檢測設備(NOVA-2000),用于SiC拋光襯底片和同質外延片的缺陷檢測,針對SiC缺陷的多樣性設計專用多通道光學檢測系統和缺陷自動檢測分類算法,對微管、層錯、三角形缺陷、臺階聚集等各類缺陷進行檢出和提取分類,對SiC質量控制和工藝提升有顯著作用。

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