
碳化硅缺陷檢測儀
產品介紹
碳化硅缺陷檢測設備(NOVA-2000),用于SiC拋光襯底片和同質外延片的缺陷檢測,針對SiC缺陷的多樣性設計專用多通道光學檢測系統和缺陷自動檢測分類算法,對微管、層錯、三角形缺陷、臺階聚集等各類缺陷進行檢出和提取分類,對SiC質量控制和工藝提升有顯著作用。
| 碳化硅缺陷檢測儀 | |
| 型號 | NOVA-2000 |
| 晶圓 | SiC襯底,外延片 |
| 尺寸 | 4寸,6寸,8寸 |
| 檢測效率 | 10WPH(6寸) |
| 上下料方式 | 全自動,2Loadport,1Robot |
| 環境溫度 | 20℃~25℃ |
| 環境濕度 | 40%~60% |
| 廠房潔凈等級 | 百級及以上無塵車間 |
01
【多通道光學檢測系統】特殊設計的多通道光學檢測系統,實現SiC復雜多樣的缺陷在一次運行中完成檢測。
02
【實時自動對焦】實時自動對焦,對不同厚度晶圓和翹曲晶圓實現自動對焦和全程跟焦。
03
【缺陷自動檢測與分類算法】基于深度學習的缺陷自動檢測與分類算法。
04
【高潔凈等級】全密封檢測環境,全自動傳片,無塵微環境設計,保障晶圓檢測過程的潔凈。
05
【智能操作軟件】一鍵式操作軟件,自動檢測晶圓位置與數量,并進行自動檢測。也可選擇單片檢測,靈活操作。
06
【檢測信息可追溯】支持晶圓盒ID和晶圓ID的自動讀取和存儲,檢測測結果與ID綁定,可隨時根據ID進行晶圓檢測結果的查找,保證可追溯性。
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